Organizace U  S Kód
hodnocení
Skupina
oborů
Body
výsledku
Body
upravené
Podíl VOBody VOBody VO
upravené
H14
Masarykova univerzita / Fakulta informatiky1215 Jimp 456.43447.0140.528.21723.507
Výsledky hodnocení dříve prezentovala speciální podoba stránek výskytů výsledků doplněná informacemi o hodnocení daného výskytu a výsledku. To zde supluji doplněním kopií stránek z rvvi.cz/riv z 18.12.2017 o relevantní údaje z dat H16. Najetí myší na kód či skupinu zobrazí vysvětlující text (u některých vyřazených není k dispozici). Čísla jsou oproti zdroji zaokrouhlena na 3 desetinná místa.

Non-equidistant scanning approach for millimetre-sized SPM measurements (2012)výskyt výsledku

Identifikační kódRIV/00216224:14330/12:00080254
Název v anglickém jazyceNon-equidistant scanning approach for millimetre-sized SPM measurements
DruhJ - Článek v odborném periodiku
Jazykeng - angličtina
Obor - skupinaJ - Průmysl
OborJB - Senzory, čidla, měření a regulace
Rok uplatnění2012
Kód důvěrnosti údajůS - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů.
Počet výskytů výsledku1
Počet tvůrců celkem3
Počet domácích tvůrců1
Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrcůPetr Klapetek (státní příslušnost: CZ - Česká republika)
Mirosla Valtr (státní příslušnost: CZ - Česká republika)
Petr Buršík (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 9486097)
Popis výsledku v anglickém jazyceLong-range scanning probe microscope (SPM) measurements are usually extremely time consuming as many data need to be collected, and the microscope probe speed is limited. In this article, we present an adaptive measurement method for a large-area SPM. Incontrast to the typically used line by line scanning with constant pixel spacing, we use an algorithm based on several levels of local refinement in order to minimize the amount of information that would be useless in the data processing phase. The dataobtained from the measurement are in general formed by xyz data sets that are triangulated back with a desired local resolution. This enables storing more relevant information from a single measurement as the data are interpolated and regularized in thedata processing phase instead of during the measurement. In this article, we also discuss the influence of thermal drifts on the measured data and compare the presented algorithm to the standard matrix-based measuring approach.
Klíčová slova oddělená středníkemSPM
Stránka www, na které se nachází výsledek-
DOI výsledku10.1186/1556-276X-7-213

Údaje o výsledku v závislosti na druhu výsledku

Název periodikaNanoscale Research Letters
ISSN1931-7573
Svazek periodika7
Číslo periodika v rámci uvedeného svazku213
Stát vydavatele periodikaNL - Nizozemsko
Počet stran výsledku7
Strana od-do213-219
Kód UT WoS článku podle Web of Science000304306600001
EID výsledku v databázi Scopus-

Ostatní informace o výsledku

PředkladatelMasarykova univerzita / Fakulta informatiky
DodavatelMSM - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy (MŠMT)
Rok sběru2015
SpecifikaceRIV/00216224:14330/12:00080254!RIV15-MSM-14330___
Datum poslední aktualizace výsledku29.05.2015
Kontrolní číslo152395711

Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl

Podpora / návaznostiInstitucionální podpora na rozvoj výzkumné organizace