Identifikační kód | RIV/00216224:14330/12:00080254 |
Název v anglickém jazyce | Non-equidistant scanning approach for millimetre-sized SPM measurements |
Druh | J - Článek v odborném periodiku |
Jazyk | eng - angličtina |
Obor - skupina | J - Průmysl |
Obor | JB - Senzory, čidla, měření a regulace |
Rok uplatnění | 2012 |
Kód důvěrnosti údajů | S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
Počet výskytů výsledku | 1 |
Počet tvůrců celkem | 3 |
Počet domácích tvůrců | 1 |
Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců | Petr Klapetek (státní příslušnost: CZ - Česká republika) Mirosla Valtr (státní příslušnost: CZ - Česká republika) Petr Buršík (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 9486097) |
Popis výsledku v anglickém jazyce | Long-range scanning probe microscope (SPM) measurements are usually extremely time consuming as many data need to be collected, and the microscope probe speed is limited. In this article, we present an adaptive measurement method for a large-area SPM. Incontrast to the typically used line by line scanning with constant pixel spacing, we use an algorithm based on several levels of local refinement in order to minimize the amount of information that would be useless in the data processing phase. The dataobtained from the measurement are in general formed by xyz data sets that are triangulated back with a desired local resolution. This enables storing more relevant information from a single measurement as the data are interpolated and regularized in thedata processing phase instead of during the measurement. In this article, we also discuss the influence of thermal drifts on the measured data and compare the presented algorithm to the standard matrix-based measuring approach. |
Klíčová slova oddělená středníkem | SPM |
Stránka www, na které se nachází výsledek | - |
DOI výsledku | 10.1186/1556-276X-7-213 |